內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級儀器-堪稱*

電磁膜厚計LE-200J

內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級型號
測量范圍0-1500μm
小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
數(shù)據(jù)存儲1500點，統(tǒng)計計算功能

主要規(guī)格

測量方式	電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)	磁性金屬上的非磁性涂層
測量范圍	0-1500μm或60.00密耳
測量精度	小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％
解析度	小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm
符合標(biāo)準(zhǔn)	JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376
統(tǒng)計功能	測量次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，大值，小值，程序段號
探測	單點接觸恒壓型（LEP-J）
顯示方式	數(shù)字（LCD，小顯示位數(shù)0.1μm）
外部輸出	RS-232C接口（傳輸速度2400bps）
電源供應(yīng)	AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機(jī)x 6，打印機(jī)x 4
尺寸/質(zhì)量	120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤
配件	標(biāo)準(zhǔn)板（10μm，50μm，100μm，350μm，800μm，1 mm，所有近似值，各1張），鐵底座，標(biāo)準(zhǔn)板盒，電池1.5 V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機(jī)紙，攜帶案件
選項	L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp”

關(guān)于凱特的膜厚計

膜厚計的種類和用途

對使用金屬的工業(yè)產(chǎn)品，在表面進(jìn)行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中，薄的話容易產(chǎn)生腐蝕，厚的話經(jīng)濟(jì)損失會變大，而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值。也就是說，在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的，承擔(dān)這一點的測定器是膜厚計。

根據(jù)素地金屬和測定的涂層的組合，有測定原理不同的幾種陣容，請選擇合適的種類。

電磁膜厚計的測量原理

渦流膜厚計的測量原理

磁性核

使交流電磁鐵接近鐵（磁性金屬）的話，根據(jù)接近距離，貫穿線圈的磁通數(shù)會發(fā)生變化，因此線圈兩端的電壓會發(fā)生變化。

從電流值讀取該電壓變化

取，換算成膜厚。

可以測量磁性金屬上的非磁性涂層。

絕緣體鐵芯

如果將流過一定高頻電流的感應(yīng)線圈靠近金屬，金屬表面會產(chǎn)生渦流。這個渦流根據(jù)感應(yīng)線圈和金屬面的距離而變化，因此感應(yīng)線圈兩端的電壓也會變化。

將此變化從電流值轉(zhuǎn)換為讀取膜厚度。可以測量非磁性金屬上的絕緣涂層。

磁場

１次線圈電壓的變化

二次線圈涂層磁性金屬

磁場

子文件電壓的變化

皮膜被

非磁性金屬渦流

膜厚計的種類分類/可測量的基底和涂層

■：電磁膜厚計■：渦流膜厚計F：費(fèi)舍爾鏡：可附帶條件?

※不銹鋼材質(zhì)有時不能根據(jù)條件進(jìn)行測定。請事先咨詢。□空欄部分的組合可能會有一部分可以測定。請咨詢。

■附屬?選配標(biāo)準(zhǔn)板一覽（產(chǎn)品附帶的標(biāo)準(zhǔn)板與下表不同，是實測的近似值）

容器種類	張數(shù)				厚度（μm）					材質(zhì)
LE-200J/LZ-200J	6	10	50	100	350		800	1000
LH-200J	5	10	50	100	350		800
LE-373/LZ-373	6	10	50	100		500		1000	1500
LH-373	5	10	50	100		500		1000		聚酯薄膜
LZ-990	3		50	100				1000
所有設(shè)備類型通用選項	ー	10 25 37	50 75	100 125 250	300 350	500 700	800	1000	1500

■探測一覽

類型	鋼筆型探頭（標(biāo)準(zhǔn)附屬）：LEP-J/LHP-J	管內(nèi)面測定用探頭（選配件）：LEP-22
對應(yīng)器種類	LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373	LE-200J
尺寸
類型	L型探頭（選配件）：LEP-21L
對應(yīng)器種類	LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373

■膜厚計適用規(guī)格一覽

測定方式	容器種類	規(guī)格
電磁感應(yīng)式	LE-200J LE-373	JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376
渦流式	LH-200J LH-373	JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376
雙重	LZ-200J LZ-373	電磁感應(yīng)式時	JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
類型	LZ-990	渦流式的情況	JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376