超快光學相干斷層掃描 3D 測量傳感器測試原理分析
在白光干涉測量中,光源發(fā)出的光被分束器分成兩束,一束被目標反射,另一束被參考鏡反射,然后進入傳感器。當這兩個光程長度接近相同值時,就會發(fā)生光干涉,亮度變化(幅度)增大。繪制光線最有建設性的點并將它們拼接在一起形成一個大波浪。這股巨浪的波峰點,會準確的代表到目標的距離。通過改變 3D 測量設備的高度或改變參考鏡的位置,找到兩個光程長度相等的點。
為了準確地重建大波浪的形狀,需要準確地獲取光線具有建設性的點,而這需要獲取大量的層析圖像。因此,使用普通傳感器的測量時間會變得很長。heliInspect 系列使用創(chuàng)新的傳感器技術來顯著減少測量時間。
每秒高達 100 萬次信號測量 = 相當于 100 萬 fps 的相機
高速移動載物臺時瞬時采集干涉波形
每個元件都有處理電路,采集到的信號在元件上進行分析
干擾波形包絡的采樣數據以5000幀/秒的速度輸出到后級
相機內部后級FPGA高速運算檢測干擾峰
最后只輸出以表面高度信息為亮度值的圖像。
Ultra-heliotis 的超高速傳感器有以下兩種形式。
heliInspect H 系列是一種測量單元類型,可將測量所需的組件(例如傳感器、光學系統(tǒng)和 Z 載物臺)封裝在一個緊湊的外殼中。
可根據所需的視野/水平分辨率進行選擇,可用于在線測量應用和研究應用等廣泛的應用領域。
深圳市秋山貿易有限公司版權所有 地址:深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002